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    寶石折光儀的介紹

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    寶石折光儀定義
    主要用來測定寶石折射率值的一種儀器。
    鑒定寶石需要從晶體結構、比重、折光度、多向色性、硬度等多方面綜合考慮,即使同樣的寶石,產地不同,性質也有差異,價值也不同,如產自緬甸的紅寶石和產自泰國的,在光學性質和內部結構上都有一定的差異。
    一、儀器結構
    折光儀主要由高折射率棱鏡(鉛玻璃或合成立方氧化鋯)、棱鏡反射鏡、透鏡、標尺(內標尺或外標尺)和目鏡等組成。
    二、工作原理
    折光儀的工作原理是建立在全內反射的基礎上。該儀器是測量寶石的臨界角,并將讀數直接轉換成折射率值。
    產生全反射的條件:
    1.折光儀的高折射率棱鏡必須為光密介質
    2.待測寶石為光疏介質
    3.接觸液使棱鏡與待測寶石之間形成良好的光學接觸
    三、操作要領
    1. 接通電源、打開儀器
    2. 用酒精清洗寶石和棱鏡
    3. 在折光儀棱鏡上點一滴接觸液(直徑約2mm為宜),使用鈉光照明,可見油的陰影邊界
    4. 寶石最大的臺面放入棱鏡上,浸油使寶石和棱鏡之間形成良好的光學接觸
    5. 眼睛靠近目鏡可觀察陰影區和明亮區并讀數,讀數保留小數點第三位
    6. 按順序轉動寶石360°,經驗豐富者可轉動寶石0°、45°、90°進行觀察和讀數
    7. 測試完畢,將寶石輕推至金屬臺上,取下寶石
    8. 清洗寶石和棱鏡
    四、 現象解釋
    1. 測寶石在折光儀上轉動360°時始終只有一條陰影邊界(固定不變),說明該寶石為各向同性寶石(單折射寶石)。
    2.待測寶石在折光儀上轉動360°時,出現兩條陰影邊界,一條陰影邊界固定不變,另一條發生移動,說明該寶石為一軸晶寶石。如動值為大值,則為一軸晶正光性寶石;如動值為小值,則為一軸晶負光性寶石。
    3. 待測寶石在折光儀上轉動360°時,兩條陰影邊界都移動,說明該寶石為二軸晶寶石。如高值移動超過中間值,說明β值接近α值為二軸晶正光性;如低值陰影邊界移動超過中間值,說明β值接近γ值為二軸晶負光性。
    4. 點測法(遠視技術法):針對弧面型和刻面較小的寶石
    1) 清洗棱鏡和寶石
    2) 在金屬臺上點一滴接觸油
    3) 手持寶石,用弧面或小刻面接觸金屬臺上的接觸油,以油滴直徑為0.2mm為宜
    4) 將沾有油滴的寶石輕置于棱鏡中央
    5) 眼睛距目鏡25-45cm,平行目鏡前后移動頭部
    6) 觀察油滴半明半暗交界處,讀數并記錄,讀數保留小數點后兩位
    五、主要用途
    1.鑒定寶石,可測定RI1.35-1.81之間寶石的折射率值
    2.可測定寶石的雙折射率(DR)
    3.確定寶石的軸性,如一軸晶、二軸晶和各向同性(等軸晶系、非晶質)
    4.確定寶石的光性符號,如各向異性寶石的正光性和負光性
    六、局限性
    1.所測寶石一定要有拋光面
    2.寶石的RI<1.35或者>1.81都無法讀數
    3.不能區分某些人工處理寶石,如天然藍寶石與熱處理藍寶石
    4.不能區分某些合成寶石,如天然紅寶石與合成紅寶石
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